Torres-Cisneros, M.; Ostrovskii, I.; Ostrovskii, I.; Burlak, G. N.; Burlak, G. N.; Koshevaya, S. V.; Koshevaya, S. V.; Guzmán-Cabrera, R.; Guzmán-Cabrera, R.; Aguilera-Cortés, L. A.; Aguilera-Cortés, L. A.; Alvarado-Méndez, E.; Alvarado-Méndez, E.; Andrade-Lucio, J.; Andrade-Lucio, J.; Rojas-Laguna, R.; Rojas-Laguna, R.; Estudillo-Ayala, J.; Estudillo-Ayala, J.; González-Barbosa, J.; González-Barbosa, J.; Aviña-Cervantes, J. G.; Aviña-Cervantes, J. G.; Cerda-Villicaña, G.; Cerda-Villicaña, G.; Castro-Sánchez, R.; Castro-Sánchez, R.; Ibarra-Manzano, O. G.; Ibarra-Manzano, O. G. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance. Acta Universitaria 2005, 15, 42-49.