Torres-Cisneros, M., Ostrovskii, I., Ostrovskii, I., Burlak, G. N., Burlak, G. N., Koshevaya, S. V., Koshevaya, S. V., Guzmán-Cabrera, R., Guzmán-Cabrera, R., Aguilera-Cortés, L. A., Aguilera-Cortés, L. A., Alvarado-Méndez, E., Alvarado-Méndez, E., Andrade-Lucio, J., Andrade-Lucio, J., Rojas-Laguna, R., Rojas-Laguna, R., Estudillo-Ayala, J., Estudillo-Ayala, J., González-Barbosa, J., González-Barbosa, J., Aviña-Cervantes, J. G., Aviña-Cervantes, J. G., Cerda-Villicaña, G., Cerda-Villicaña, G., Castro-Sánchez, R., Castro-Sánchez, R., Ibarra-Manzano, O. G., & Ibarra-Manzano, O. G. (2005). Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance. Acta Universitaria, 15(2), 42–49. https://doi.org/10.15174/au.2005.211