TORRES-CISNEROS, M.; OSTROVSKII, I.; OSTROVSKII, I.; BURLAK, G. N.; BURLAK, G. N.; KOSHEVAYA, S. V.; KOSHEVAYA, S. V.; GUZMÁN-CABRERA, R.; GUZMÁN-CABRERA, R.; AGUILERA-CORTÉS, L. A.; AGUILERA-CORTÉS, L. A.; ALVARADO-MÉNDEZ, E.; ALVARADO-MÉNDEZ, E.; ANDRADE-LUCIO, J.; ANDRADE-LUCIO, J.; ROJAS-LAGUNA, R.; ROJAS-LAGUNA, R.; ESTUDILLO-AYALA, J.; ESTUDILLO-AYALA, J.; GONZÁLEZ-BARBOSA, J.; GONZÁLEZ-BARBOSA, J.; AVIÑA-CERVANTES, J. G.; AVIÑA-CERVANTES, J. G.; CERDA-VILLICAÑA, G.; CERDA-VILLICAÑA, G.; CASTRO-SÁNCHEZ, R.; CASTRO-SÁNCHEZ, R.; IBARRA-MANZANO, O. G.; IBARRA-MANZANO, O. G. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance. Acta Universitaria, [S. l.], v. 15, n. 2, p. 42–49, 2005. DOI: 10.15174/au.2005.211. Disponível em: https://www.actauniversitaria.ugto.mx/index.php/acta/article/view/211. Acesso em: 29 mar. 2024.