Torres-Cisneros, M., Igor Ostrovskii, Igor Ostrovskii, Gennadiy N. Burlak, Gennadiy N. Burlak, Svetlana V. Koshevaya, Svetlana V. Koshevaya, R. Guzmán-Cabrera, R. Guzmán-Cabrera, L. A. Aguilera-Cortés, L. A. Aguilera-Cortés, E. Alvarado-Méndez, E. Alvarado-Méndez, J.A. Andrade-Lucio, J.A. Andrade-Lucio, R. Rojas-Laguna, R. Rojas-Laguna, J. Estudillo-Ayala, J. Estudillo-Ayala, J. González-Barbosa, J. González-Barbosa, J. G. Aviña-Cervantes, J. G. Aviña-Cervantes, G. Cerda-Villicaña, G. Cerda-Villicaña, R. Castro-Sánchez, R. Castro-Sánchez, O. G. Ibarra-Manzano, y O. G. Ibarra-Manzano. 2005. «Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance». Acta Universitaria 15 (2):42-49. https://doi.org/10.15174/au.2005.211.