Torres-Cisneros, M., I. Ostrovskii, I. Ostrovskii, G. N. Burlak, G. N. Burlak, S. V. Koshevaya, S. V. Koshevaya, R. Guzmán-Cabrera, R. Guzmán-Cabrera, L. A. Aguilera-Cortés, L. A. Aguilera-Cortés, E. Alvarado-Méndez, E. Alvarado-Méndez, J. Andrade-Lucio, J. Andrade-Lucio, R. Rojas-Laguna, R. Rojas-Laguna, J. Estudillo-Ayala, J. Estudillo-Ayala, J. González-Barbosa, J. González-Barbosa, J. G. Aviña-Cervantes, J. G. Aviña-Cervantes, G. Cerda-Villicaña, G. Cerda-Villicaña, R. Castro-Sánchez, R. Castro-Sánchez, O. G. Ibarra-Manzano, y O. G. Ibarra-Manzano. «Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance». Acta Universitaria, vol. 15, n.º 2, abril de 2005, pp. 42-49, doi:10.15174/au.2005.211.