Torres-Cisneros M, Ostrovskii I, Ostrovskii I, Burlak GN, Burlak GN, Koshevaya SV, Koshevaya SV, Guzmán-Cabrera R, Guzmán-Cabrera R, Aguilera-Cortés LA, Aguilera-Cortés LA, Alvarado-Méndez E, Alvarado-Méndez E, Andrade-Lucio J, Andrade-Lucio J, Rojas-Laguna R, Rojas-Laguna R, Estudillo-Ayala J, Estudillo-Ayala J, González-Barbosa J, González-Barbosa J, Aviña-Cervantes JG, Aviña-Cervantes JG, Cerda-Villicaña G, Cerda-Villicaña G, Castro-Sánchez R, Castro-Sánchez R, Ibarra-Manzano OG, Ibarra-Manzano OG. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance. Acta Universitaria [Internet]. 1 de abril de 2005 [citado 20 de abril de 2024];15(2):42-9. Disponible en: https://www.actauniversitaria.ugto.mx/index.php/acta/article/view/211