Torres-Cisneros M, Ostrovskii I, Ostrovskii I, Burlak GN, Burlak GN, Koshevaya SV, et al. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance. Acta Universitaria [Internet]. 1 de abril de 2005 [citado 28 de junio de 2026];15(2):42-9. Disponible en: https://www.actauniversitaria.ugto.mx/index.php/acta/article/view/211